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東奧題庫(kù)/美國(guó)注冊(cè)管理會(huì)計(jì)師題庫(kù)/題目

單項(xiàng)選擇題

【2022考季】在系統(tǒng)開(kāi)發(fā)生命周期中掃描識(shí)別系統(tǒng)中的漏洞的階段是（　　）。

A
發(fā)展階段
B
測(cè)試階段
C
計(jì)劃階段
D
維護(hù)階段

正確答案：

B  

試題解析

掃描識(shí)別系統(tǒng)中的漏洞和缺陷是在測(cè)試階段完成的。

本題關(guān)聯(lián)的知識(shí)點(diǎn)

  • 信息系統(tǒng)開(kāi)發(fā)生命周期

    展開(kāi)

    知識(shí)點(diǎn)出處

    第六章 科技和分析

    知識(shí)點(diǎn)頁(yè)碼

    財(cái)務(wù)規(guī)劃、績(jī)效與分析第484,485頁(yè)

  • 信息系統(tǒng)開(kāi)發(fā)生命周期

    展開(kāi)

    知識(shí)點(diǎn)出處

    第六章 科技和分析

    知識(shí)點(diǎn)頁(yè)碼

    財(cái)務(wù)規(guī)劃、績(jī)效與分析第484,485頁(yè)